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ASIC 器件 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標(biāo)

單價(jià): 面議
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所在地: 直轄市 北京
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發(fā)布時(shí)間: 2023-12-15 08:00
最后更新: 2023-12-15 08:00
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由于ASIC的便利性和良好的可靠性,逐漸越來越多的應(yīng)用于安全相關(guān)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)開發(fā),如智能的安全變送器、安全總線接口設(shè)備或安全控制器。由于不同于傳統(tǒng)的模擬電路或一般IC,如何評價(jià)ASIC的功能安全性,包括當(dāng)ASIC集成到產(chǎn)品開發(fā)時(shí),如何評價(jià)產(chǎn)品的功能安全性,逐漸成為了一個(gè)新的問題和熱點(diǎn)。ASIC有其自身的一些復(fù)雜性特點(diǎn)。例如一塊ASIC上可能有上億個(gè)MOS管,每個(gè)MOS管都有可能發(fā)生失效,如何判斷和控制這些失效時(shí)功能安全需要考慮的問題:又如ASIC設(shè)計(jì)過程中需要利用Verilog等專用工具,如何評價(jià)這些工具的適用性,以及對開發(fā)流程的質(zhì)量控制等也是需要解決的問題。



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